作者:韩月秋 单位:电子工业出版社;美国国际数据集团 出版:《今日电子》1999年第06期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZJR1999060130 DOC编号:DOCDZJR1999060139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 如何提高电子产品的品质,增加产品的可靠性,缩短产品的开发周期,一直是困扰着工程师们的问题。而在电子产品的可靠性设计和测试中,电磁辐射及热辐射是两项致关重要的因素。由于电磁场是不可见的,传统的测试设备不易测出电磁辐射及热辐射的形状、方向、强度、频率,无法满足对测试能力日益增长的需求。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。