作者:丁么明,叶嘉雄,宋立新 单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版:《光电工程》1999年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDGC1999040110 DOC编号:DOCGDGC1999040119 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 提出用反射型光纤位移法对非晶体Pd77.5Cu6Si16.5的剪切变模量的测试方法。讨论了测试原理,得到了测量非晶态微应变的一种新途径,分析了误差来源,对光纤测距条件进行了修正,提出了测试的约束条件

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