作者:蒋齐密,郑小年,胡恩球,陈吉红,周济 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》1998年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS1998030100 DOC编号:DOCCGJS1998030109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文提出了一种可藉精确测定电感线圈接近待测零件后的阻抗变值,来判定工件有无缺陷的无损测试技术.并着重介绍了可精确测定电感线圈阻抗变值的电路分析计算基础.若改用100kHz以上的激励电源后,这一技术,凭藉趋肤效应,不仅可以用于物体内在缺陷检测,而且还可以用于物体形状的检测。

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