《一种可以制止窜改的光学传感器》PDF+DOC
作者:高国龙
单位:中国科学院上海技术物理研究所
出版:《红外》1996年第04期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHWAI1996040170
DOC编号:DOCHWAI1996040179
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美国圣地亚国冢实验室研制了一种两级新型光学传感器,这种新型光学传感器在今后或许能用于阻扰高技术窜改器。该传感器可以测量由小型半导体波导产生的光学特征(一种当传感器被干扰时必然会改变的特征)。这种传感器的窜改现象探测能力具有广泛的用途,因为它的尺寸较小,可以固定在诸如集成电路之类可能受到手指撬动影响的器件上。与其它采用光学方法的当发生窜改现象时发报警声的
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