作者:林柏枫,刘敬真 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1997年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS704.0030 DOC编号:DOCYBJS704.0039 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过失效形式,分析了半导体P-N结温度传感器的失效机理,介绍了为降低内应力而进行的设计和工艺改进。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。