作者:赵吉良,朱景伟,梁波 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1996年第08期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS1996080050 DOC编号:DOCYBJS1996080059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文分析了光电式传感器在模拟式工作状态下难于实现高精度测量的原因,提出了通过自校正提高测量精度的方法。通过卷绕式连续真空镀膜膜厚测量的实例,证明效果良好。

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