作者:石自彬,李和新,龙勇,付昌禄,胡少勤 单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所 出版:《压电与声光》2015年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYDSG2015060100 DOC编号:DOCYDSG2015060109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 报道了La_3Ga_(5.5)Ta_(0.5)O_(14)(LGT)和La_3Ga_(5.5)Nb_(0.5)O_(14)(LGN)压电晶体的生长及其性能研究。采用提拉法成功生长了?80mm×90mm的晶体。采用LCR电桥、谐振-反谐振法测量了晶体的相对介电常数和压电应变常数,并测试了电阻率随温度的变化。测试结果表明晶体存在良好的压电性能,在高温传感器领域具有巨大的应用价值。

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