作者:聂继红,刘宜环 单位:福建省测试技术研究所 出版:《福建分析测试》1997年第02期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFFJFC1997020010 DOC编号:DOCFJFC1997020019 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线能谱仪(EDS)及X射线波谱仪(WDS)研究了铜及其氧化物的I_(Lα)/I_(Kα)和I_(Lα)/I_(Lβ)谱线强度比的价态效应。结果表明,不同价态铜的I_(Lα)/I_(Kα)和I_(Lα)/I_(Lβ)谱线强度比按一定的规律随价态而变化,即谱线强度比值随价数增加而减少。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。