《美国专利简介 测量1~100mV范围内电压的薄膜传感器》PDF+DOC
作者:
单位:北京信息科技大学
出版:《传感器世界》1995年第Z1期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGSJ1995Z10150
DOC编号:DOCCGSJ1995Z10159
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专利号:US Patent 5,287,081美NIST的Joseph Kinard及其同事开发了一种集成微电势计(micropots),所有必需的电气元件都集装于薄膜上,这是一种尺寸为1.6mm×;2mm的多层膜,其独到之处在于配备薄膜多接头热转换器薄膜输出电阻.传统的微电势计,无论是毫伏还是微伏,都采用UHF型热电偶和与热电串接的环状膜输出电阻,各组件间线连接.Kinard的革新产品采用多接头热转换器(MJTCs),使工程人员可利用近期取得成功的100mV量程内的不稳定度限制方法。
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