作者:周真,苏子美,王天荣 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1995年第05期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ505.0180 DOC编号:DOCCGQJ505.0189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 讨论了具有早期失效的敏感元件与传感器的可靠性分布,由此提出了如何确定早期失效和筛选时间,并给出了实用例子,为进一步确定可靠性指标提供了依据.

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