作者:姚景顺,毕文平,钟生新 单位:上海市电子学会;上海市通信学会 出版:《》 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZJS501.0070 DOC编号:DOCDZJS501.0079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 对于厚度为10—100μm的薄膜,传统测厚方法是将薄膜从生产线上切下一条,然后送实验室用光学仪器测量。这种方法的缺点是测量时间长、速度慢。本文介绍一种以8098单片机为核心的β射线薄膜测厚仪,精度高、速度快,能满足薄膜生产线高精度在线实时测厚的要求。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。