作者:王光学,朱自强,胡敏 单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版:《光电工程》1994年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDGC404.0060 DOC编号:DOCGDGC404.0069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 介绍CCD测量微小位移的一种新方法。这种方法测位移不受待测物体表面状况的影响,分辨率和测量范围可调,适宜测量象金属丝的受力伸长及受热膨胀之类的微小位移,比CCD测位移的传统方法优越。

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