作者:徐科军,马文 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1990年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ1990050120 DOC编号:DOCCGQJ1990050129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 利用阻抗分析仪测试某些传感器,为传感器的分析,设计提供可靠、有效的数据。

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