作者:胡又林 单位:武汉大学 出版:《测绘地理信息》1990年第02期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCHXG1990020080 DOC编号:DOCCHXG1990020089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 借助于外差检测技术,能够以高精度、高稳定性、宽动态范围测量温度、压力、应变、位移、旋转、磁场、电流、电场、薄膜厚度及光学常数等各种物理量,本文综合介绍这些应用外差检测技术的光纤传感器及其所达到的性能指标。

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