作者:吴原 单位:东南大学 出版:《电子器件》1990年第02期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZQJ1990020150 DOC编号:DOCDZQJ1990020159 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 具有单晶硅薄膜的标准压阻硅压力传感器通常在不到满量程10倍的压力下损坏,通过采用在薄膜正下方加上停止面,我们制造了具有500倍过量程保护的传感器.这些传感器完全由单晶硅采用硅键合技术形成.在低的压力下,芯片灵敏度高达3mv/m/psi,设计成在10psi时输出100mv的传感器在过压力达5000psi时仍不损坏,从而器件500倍过量程而无损坏。

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