作者：肖天来,李银祥 单位：天津市工业自动化仪表研究所;天津市自动化学会 出版：《自动化与仪表》1992年第01期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFZDHY1992010120 DOC编号：DOCZDHY1992010129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 1 前言光栅位移传感器是一种高精度位移测量装置，在精密测量和机床工业中得到广泛应用.用光栅进行位移测量时，若以光栅的栅距直接作为计量单位，则要提高光栅的分辨率就必须提高栅线的密度，这将受到多种因素的限制，为此，人们广泛采用的方法是在选择合适的光栅栅距的前提下进行“细分”。本文提出一种利用微处理机采集光强随位移改变时的模拟电压信号，通过 A/D 转换进行细分和辨向的方法。

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