作者:杨怀庆 单位:中国兵器工业集团新技术推广研究所 出版:《新技术新工艺》1985年第05期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXJXG1985050150 DOC编号:DOCXJXG1985050159 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 由于应变片有许多突出的优点,不少物理量均借助于应变式传感器进行测量。半导体应变片工艺的发展更促进了这种技术的广泛应用。由于应变片参数的分散性,以及使用时温度变化等因素的影响,贴片后需要对电路进行一系列调整(补偿)工作,方能实际使用。

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