作者:侯文郁,郑义中 单位:中国兵器工业集团新技术推广研究所 出版:《新技术新工艺》1985年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXJXG1985030190 DOC编号:DOCXJXG1985030199 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 用测量位移的电容测微仪测量光洁度还是一个新课题。我们在应用电容测微仪测量金属工件过程中,一直把被测量表面的光洁度影响作为定值系统误差。但经分析后,发现测量位移的电容测微仪也能测量光洁度,并具有一定的特点。现将我们研究的成果介绍如下。

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