作者:杨永胜 单位:中国科学院武汉岩土力学研究所 出版:《岩土力学》1985年第02期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYTLX1985020150 DOC编号:DOCYTLX1985020159 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 目前国内外已研制生产出许多类型的静态位移测量仪器,但它们的绝大多数只能测量1微米以上的变形和位移,能够分辨的最小位移仍停留在微米级。这对于测定那些变形比较大,不要求分辨非常精细的场合,还是能够满足要求的。但对变形比较小,要求分辨极其微小位移变化的场合,就必须使用高分辨率的精密仪器。HPD-1型高精度位移测量仪就是为了适应这种要求而研制的。它与其它同类仪器相比,具有传输距离长(1~20米),在分辨

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