作者:友清 单位:中国科学院上海光学精密机械研究所 出版:《激光与光电子学进展》1989年第09期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJGDJ1989090040 DOC编号:DOCJGDJ1989090049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 美国高技术传感器公司获得一项受调制红外源专利,该源用硅制作,可产生和调制3~12μm的宽带红外辐射。其应用包括作非色散红外气体分析器和红外制导、红外成象系统的内装检验源。器件的工作原理是将P班经构加热到500K,将载流子注入半导体本征区,改变该区的发射率,从而对红外输出产生调制。

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