《单晶光纤应力分布测试方法的研究和应用》PDF+DOC
作者:亓勇,顾秋华,徐森禄
单位:中材人工晶体研究院
出版:《人工晶体学报》1988年第Z1期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFRGJT1988Z13580
DOC编号:DOCRGJT1988Z13589
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单晶光纤应用于光纤激光器,光放大器及光纤传感器时,对其折射率的分布,或应力分布有很高的要求。精确测定单晶光纤横截面上的应力分布,对于单晶光纤的理论分析和应用研究,尤其是生长工艺的控制有重要的意义。本文给合四分之一波片法和计算机层析技术,建立了适用于光纤轴向残余应力分布无损检测的实验装置,该方法由横向通过光纤的线偏光
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