作者:亓勇,顾秋华,徐森禄 单位:中材人工晶体研究院 出版:《人工晶体学报》1988年第Z1期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFRGJT1988Z13580 DOC编号:DOCRGJT1988Z13589 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 单晶光纤应用于光纤激光器,光放大器及光纤传感器时,对其折射率的分布,或应力分布有很高的要求。精确测定单晶光纤横截面上的应力分布,对于单晶光纤的理论分析和应用研究,尤其是生长工艺的控制有重要的意义。本文给合四分之一波片法和计算机层析技术,建立了适用于光纤轴向残余应力分布无损检测的实验装置,该方法由横向通过光纤的线偏光

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。