作者:王肇和 单位:哈尔滨电工仪表研究所有限公司;中国仪器仪表学会电滋;测量信息处理仪器分会 出版:《电测与仪表》1983年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDCYQ1983050070 DOC编号:DOCDCYQ1983050079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 1、磁场的测量方法现在一般采用的磁场测量方法,是霍尔元件法。在图1所示的矩形半导体片中,如果在长度方向上通过电流,在垂直板的方向上加以磁场,电子的轨道就发生弯曲,在板的宽度方向上就产生电压。这电压V_H与半导体片的厚度d成反比,分别与流过的电流I、所加的磁场H成正比,这可用公式(1)来表示:

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