作者: 单位:哈尔滨电工仪表研究所有限公司;中国仪器仪表学会电滋;测量信息处理仪器分会 出版:《电测与仪表》1983年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDCYQ1983030120 DOC编号:DOCDCYQ1983030129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 这是一篇综述性文章。它首先介绍了自动测试装置设计思想的变化。由于电子元件和被测组件模件越来越复杂,原有的一次性综合测试已不能适应这种情况。新设计思想要把阶段测试与综合功能测试结合起来,同时还必须考虑到降低成本这个重要因素。文章叙述了利用IEEE488母线构成系统的优点,例如灵活、简便、价格低等。也讨论了使用这种接口系统的局限性。本文用大量篇幅介绍了在线路板(未安装元件)测试、元件测试、元件安装到线路板后的测试、综合功能测试几个方面的一些代表性产品,介绍了这些

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