作者:R.I.Buckley 单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司 出版:《电器与能效管理技术》1975年第05期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDYDQ1975050170 DOC编号:DOCDYDQ1975050179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 对电触头及此触头部件的支承元件之间的接合处用超声波技术进行无损测试和质量控制日益增多。本文由控制方面分析和讨论此一重要方法的技术发展水平。就延时的脉冲回波(delayed pulse echo)和穿透传输(through-transmission)这两种超声波技术对于检验和控制银氧化镉触头或银触头和铜支座之间的钎焊质量方面的局限性和优点予以说明和讨论。对不同厚度的触头和支座材料确定了仪器校准的方法、试验频率的范围和空隙的分辨力。提供并讨论了包括记录分立元件和条状材料连续接合处空隙的 C—扫描图在内的仪器设备和数据。

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