作者:J.V.Difranco ,C.Kaiteris ,林昌华 单位:中国航天科工防御技术研究院;中国宇航学会;中国系统工程学会 出版:《系统工程与电子技术》1983年第01期 页数:9页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXTYD1983010060 DOC编号:DOCXTYD1983010069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文对电扫描雷达在无干扰和有阻塞干扰时的探测能力进行了分析。导出了雷达在无干扰条件下的搜索优质因数和跟踪优质因数,并使它们与雷达天线的旁瓣电平直接相关。 本文就旁瓣电平的随机起伏在独立干扰机数量不同的情况下对探测能力的影响进行了分析。本文还导出了发现概率的分布,以便确定探测能力与平均干扰水平和干扰机数量间的关系。

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