作者：许艳阳,潘庆庆,高婕 单位：中国科技新闻学会 出版：《中国科技信息》2020年第21期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXXJK2020210230 DOC编号：DOCXXJK2020210239 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文主要对在带电检测过程中发现特高频超声波局部放电异常信号的原因进行分析，通过对各类数据及波形图进行分析，总结经验并提出改进措施，为检修人员在今后检修过程遇到类似问题提供了依据。

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