作者:广明安,韩雷 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《半导体技术》2006年第08期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTJ2006080130 DOC编号:DOCBDTJ2006080139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 建立了超声键合压力的测量工作台,对工作台进行静态线性度标定和动态重复性测量,利用动态压电测力传感器对超声键合系统键合压力大小进行测量,得出不同压力作用下传感器力响应曲线图,分析其频谱图,发现保持某一固定功率(4.5格2.25W),可以找到合适的键合压力(5格0.719N)与其匹配。这些实验现象和结果可作为超声键合过程参数匹配及优化的依据。

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