作者:王军,杨会玲,刘亚侠,何昕,郝志航 单位:中国电子科技集团第四十四研究所 出版:《半导体光电》2005年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTG2005030260 DOC编号:DOCBDTG2005030269 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素。在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法。大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度。该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义。

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