《面向SPC的高精度位移检测系统》PDF+DOC
作者:殷建军,余忠华,吴昭同
单位:中国仪器仪表学会
出版:《仪器仪表学报》2005年第05期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYQXB2005050130
DOC编号:DOCYQXB2005050139
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针对企业实施统计过程控制(SPCStatisticalProcessControl)所遇到的问题,提出了面向SPC的高精度位移检测系统的总体结构,给出了基于LVDT传感器的系统设计与优化方法,并讨论了系统的组网技术、数据流协议等问题。最后,采用了测量系统分析(MeasurementSystemAnalysis)方法对该检测系统的性能进行了评定。结果表明该系统性能稳定、精度高,并且具有成本低、网络功能与大容量数据存储的优点,有较好的推广价值。
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