作者：李华丰,赵新丽,朱振宇,严家骅,万宇 单位：中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所 出版：《计测技术》2005年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFHKJC2005040060 DOC编号：DOCHKJC2005040069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 介绍了采用应变片测量压电陶瓷微位移驱动器位移的原理和设计思想，介绍了实验装置的结构，给出了实验结果，证明将应变片直接粘贴在压电陶瓷基体表面测量其位移的方法是可行性的；通过对压电陶瓷滞回特性的测定，提出了建立压电陶瓷的控制模型的基本思路。

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