作者:孙海军 单位:中国仪器仪表学会试验机分会;长春试验机研究所 出版:《工程与试验》2005年第04期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSNSN2005040060 DOC编号:DOCSNSN2005040069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在PLG-XXX系列高频疲劳试验机的电控系统中,当功率开关放大器的功率晶体管发生损坏时,常引起前级的某些数字电路、线性电路、甚至面板表的损坏。究其原因:第一,由于功率放大器工作于高压大电流状态, 一旦损坏,高电压将串入低压电路;第二,当功率管损坏时,将产生数十安甚至上百安的

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