作者：赵浙明,隋成华 单位：中国仪器仪表协会上海光学仪器研究所 出版：《光学仪器》2005年第05期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGXYQ2005050060 DOC编号：DOCGXYQ2005050069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 分析了多模光纤强度型微弯传感器中多模光纤的弯曲损耗。提供了弯曲半径为1mm~8mm和10mm~26mm，光源波长为0.633μm、0.780μm、0.830μm G raded Index多模光纤的弯曲损耗特性的测试结果。首次观察到了多模光纤弯曲损耗随着弯曲半径的减小而增大的趋势，以及在弯曲半径为10mm~26mm范围内损耗特性的不平滑性，并利用传播常数和W G模理论对此现象进行了解释。

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