作者:田利军,宋文爱 单位:中国计算机学会工业控制计算机专业委员会;江苏省计算技术研究所 出版:《工业控制计算机》2005年第01期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGYKJ2005010060 DOC编号:DOCGYKJ2005010069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文简要介绍了基于虚拟仪器图形化语言LabVIEW开发的薄片厚度检测系统。系统采用高精度非接触式电容传感器进行前端数据采集,在计算机控制下实现了对直径150mm内,厚度在0.09~1.00mm之间的非金属薄片的单点静态检测,和圆周、直径方向的动态快速检测。在显示屏直角坐标下显示薄片面积上的厚度分布曲线,给出被检薄片厚度参数并用语音方式报数,实现了LabVIEW环境下大量检测数据的数据库管理,对不合格的薄片自动进行声光报警。

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