作者：刘吉延,斯永敏,李智忠,刘阳,胡永明 单位：中国电子科技集团第四十四研究所 出版：《半导体光电》2004年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTG2004030210 DOC编号：DOCBDTG2004030219 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 采用马赫 曾德尔干涉仪，对TbDyFe超磁致伸缩薄膜/光纤传感器的磁探测性能进行了实验测试。结果表明：在1kHz调制频率附近，传感器对磁场具有最大的信号响应；在恒定直流磁场及调制磁场强度小于1kA/m的条件下，系统输出信号大小随调制磁场强度线性增加；在35～50kA/m的直流磁场范围内，传感器可探测的最小磁场变化为8.6&#215；10-2A/m。

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