作者:张莉萍,余璆 单位:中国机械工程学会;上海材料研究所 出版:《无损检测》2004年第12期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWSJC2004120060 DOC编号:DOCWSJC2004120069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 介绍了光纤位移传感器系统测量粗糙度的结构和原理,采用LabVIEW软件对测量数据进行采集、分析和处理,用最小二乘法拟合成曲线实现微位移和粗糙度的检测。

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