作者:赵庆海,顾桓,黄颖为 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2004年第09期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2004090040 DOC编号:DOCCGQJ2004090049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 运输包装损坏主要由流通过程中装卸、运输、存储等环节以及包装物设计本身所造成。介绍了能对上述损坏因素进行全过程监测的黑匣子。通过黑匣子对流通过程中包装件的加速度、温度、湿度进行监测并记录在存储器中,然后,通过对黑匣子记录数据的读取,取得损害原因数据,从而确定损坏原因。

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