作者：江毅,江天府 单位：中国兵工学会;北京理工大学;中国北方光电工业总公司 出版：《光学技术》2004年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGXJS2004040240 DOC编号：DOCGXJS2004040249 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 发展了一种能够有效检测复合材料分层的光纤Mach Zehnder干涉仪。用一只2&#215；2耦合器和一只3&#215；3耦合器构成光纤干涉仪，输出信号经A/D转换后送入计算机，用软件进行信号解调。将此干涉仪的一个臂埋入材料内部或粘贴在复合材料表面，沿光纤逐点下压材料，通过光纤干涉仪测量出传感光纤形变的大小和方向，这样就能够有效的检测出材料内部是否存在分层。

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