作者:邵先军,何文林,石华军,周兴杨,刘浩军,徐华 单位:西安高压电器研究所 出版:《高压电器》2015年第01期 页数:10页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGYDQ2015010100 DOC编号:DOCGYDQ2015010109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 文中搭建了252 k V GIS局部放电实验平台,采用内置式、外置式UHF传感器以及自主研制的利用盆式绝缘子内部均压屏蔽环的抽取式环形UHF传感器,实验研究不同传感器的频率响应特性和在高压导体金属尖端、悬浮电位、盆式绝缘子边遗留金属垫片和自由金属颗粒等4种典型绝缘缺陷下的检测特性,并探讨了不同电压下局放的发展规律。结果表明,内置式、外置式和抽取式环形UHF传感器的检测频段分别在1.5 GHz以下、500 MHz至1.5 GHz、1 GHz以下,且抽取式环形UHF传感器在400 MHz左右其灵敏度最高。不同绝缘缺陷的局放检测结果表明,按PRPD谱图和放电严重程度,高压导体金属尖端可分为负电晕主导、正负电晕并存、正电晕主导以及“兔耳状”阶段,认为尖端附近空间电荷在阶段转变过程中起主要作用;悬浮放电逐渐由“尖端放电阶段”转变至放电幅值、密度及相位对称的典型悬浮式放电;盆式绝缘子边遗留金属垫片将由初始类悬浮放电转变至临界闪络状态;自由金属颗粒则可分为“跳动”、“舞动”和“滑移”阶段,放电主要集中在过零点附近。高压导体金属尖端、悬浮电位和自由金属颗粒缺陷的检测灵敏度.....。

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