《理性的选择来自专业的测试 CHIP测试方法汇总》PDF+DOC
作者:
单位:中国电子科技集团公司第52研究所
出版:《》
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZJB2003040270
DOC编号:DOCDZJB2003040279
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《汽车ABS轮速传感器性能测试系统的实现》PDF+DOC2009年第03期 孙骏,陈彦夫
《主轴动态回转精度测试系统的研制》PDF+DOC2019年第06期 罗勇,陈蔚芳,苏川,沈雨苏
《CMOS图像传感器参数自动化测试软件设计与实现》PDF+DOC2018年第03期 刘冰,郑君,董建婷
《信息融合系统性能测评指标和方法研究》PDF+DOC2005年第06期 徐丹,沈继峰,刘同明,刘以安
《新品检阅》PDF+DOC
《新型舵电位计测试系统的研制》PDF+DOC2001年第08期 戴文刚,李国平,陈林华
《光电传感器特性参数测试系统的设计》PDF+DOC2012年第12期 靳展,刘铮,林玉池
《嵌入式雷达幅相特性测试仪的设计与实现》PDF+DOC2009年第11期 胡文华,尚朝轩,王志云,王旭明
《热力膨胀阀容量测试系统的设计》PDF+DOC2014年第04期 董长盛,郭晓铃,彭军皓
《一种输煤系统除铁器磁感应强度测试新方法》PDF+DOC2013年第04期 刘小兵,韩斌
作为全欧洲乃至全球最著名的中立IT产品评测机构之一,CHIP全球测试中心由分布在欧洲和亚洲各国的评测实验室组成。基于用户的使用需求和市场发展趋势,CHIP开发了标准的测试软件和严密的测试方法。这个庞大的测试网络对用户需求更为精确的人性化模拟和测试方案的创造性设计,保证了结果更为准确与权威。下面是CHIP对一些重要IT产品的测试标准的描述。
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。