作者：刘伟,方卫 单位：中国有色金属学会;昆明贵金属研究所 出版：《贵金属》2003年第02期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGJSZ2003020130 DOC编号：DOCGJSZ2003020139 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 研究了用原子发射光谱法同时测定锇中 2 1个杂质元素的分析方法。基于锇易与氧反应生成四氧化锇气体挥发的特性 ，采用加热挥发分离锇基体、碳粉捕集杂质元素、直流电弧激发摄谱和计算机控制测光仪进行自动测定。实验考查了样品处理、测定条件和方法准确度。在 660℃下恒温 1 5h可使锇基体挥发至 &lt；0 1 % ，而杂质元素不损失。测定了 3个杂质含量不同的校样 ，测定百分误差均≤ 2 5 %。方法简便快速 ，测定结果令人满意。

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