作者:金湘亮,陈杰,仇玉林 单位:东南大学 出版:《电子器件》2002年第04期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZQJ2002040220 DOC编号:DOCDZQJ2002040229 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文提出一种新的用于 CMOS图像传感器像素的光电检测器——双极结型光栅晶体管。由于引入 p+ n注入结 ,光电荷的读出速率大大增加 ,改善了 CMOS图像传感器的工作速率和响应灵敏度。尽管传统的光电集成电路的电路级模拟采用微电子集成电路的模拟方法 ,但是光电子集成电路不仅含有微电子器件和电信号还含有光电检测器和光信号 ,采用传统的集成电路模拟方法有其局限性。本文提出一种行为级模拟方法 (光电子检测器设计的新方法 ,利用 C、MATL AB和 HSPICE等语言写出光电子器件的模拟器 )来模拟分析双极结型光栅晶体管的特性。基于0 .6 μm CMOS工艺的分析结果表明双极结型光栅晶体管在不同栅氧化层厚度随栅压变化与传统光栅晶体管的特性一样 ,但光电流密度呈指数式增长且光电流密度增大 ,因此改善了 CMOS图像传感器的工作速率和响应灵敏度

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