作者：李佳列,丁国清,颜国正,朱洪海 单位：中国科学院长春光机所;中国仪器仪表学会 出版：《光学精密工程》2002年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGXJM2002030140 DOC编号：DOCGXJM2002030149 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法 ，但受到CCD像元特征尺寸的限制 ，测量精度往往只能达到微米级 ，限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用。本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法。实验证明 ，方法能将测量的精度提高一个数量级

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