作者:石颉,姚建林,蒋乃杰,施海宁 单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司 出版:《电器与能效管理技术》2013年第15期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDYDQ2013150120 DOC编号:DOCDYDQ2013150129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 基于熔断器加速老化试验系统中温度测量依然采用手动测温,无法避免由测量时间、仪器使用方式、测量位置、测量角度、读数等带来的误差问题,提出并研发了一种熔断器自动测温系统,并应用于熔断器加速老化试验系统中。该熔断器自动测温系统有效地克服了手动测量带来的各种问题,有极大的应用价值。

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