作者:许来才,邓明,朱涛,饶云江 单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版:《光电工程》2012年第02期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDGC2012020090 DOC编号:DOCGDGC2012020099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文提出一种用于高温测量的光子晶体光纤F-P干涉传感器,通过熔接机放电使无截止单模光子晶体光纤(ESM-PCF)一个端面完全塌陷,然后再将其与单模光纤(SMF-28e)熔接起来,最后按照设计长度切断ESM-PCF。由于在熔接点处ESM-PCF完全塌陷使其模场直径扩大,减小了与SMF-28e的模场失配损耗,并提高了熔接面的反射光强。这种方式制作简单,相对于以往的光子晶体光纤F-P干涉传感器具有更高的干涉光强度。实验结果表明,该传感器测量温度可达1100℃,温度灵敏度为29.4nm/℃,可以预见这种结构稳定、线性度好的全光纤传感器在机械、航空、冶金领域等具有一定的潜在应用价值。

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