作者: 单位:中国半导体行业协会 出版:《中国集成电路》2012年第10期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJCDI2012100320 DOC编号:DOCJCDI2012100329 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 联华电子日前宣布,与意法半导体合作开发65纳米CMOS影像传感器背面照度BSI技术。双方先前已在联华电子新加坡Fab 12i厂顺利研发出意法半导体的前面照度式FSI制程,在之前成功经验的基础上,此次合作将更进一步扩展两家公司的伙伴关系。此次1.1um像素间距的BSI制程将在联华电子新加坡Fab 12i厂进行研发,并将以开放式平台模式供客户采用,以协助客户迎接高分辨率与高画质(千万像素以上)尖端智能手机时代的到来。

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