作者:荆冬平,陆永华 单位:西北工业大学 出版:《机械科学与技术》2012年第10期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJXKX2012100330 DOC编号:DOCJXKX2012100339 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 光学薄膜表面对微重力的敏感性是微重力光学传感器设计的关键问题。本文中研究了薄膜反射面斜率与微重力之间的变化关系,通过正交试验设计,分析了光学薄膜的材料、半径、厚度与薄膜反射面斜率之间的关系;并结合实验结果对圆薄膜在集中力作用下表面斜率公式进行了修正。通过理论计算以及ANSYS有限元分析发现:薄膜反射面斜率与微重力之间有良好的线性关系;薄膜的微重力敏感性随薄膜半径增大而增大;且随着薄膜厚度和弹性模量的减小而提高。

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