作者:王长璟,杨秋翔,刘晴晴 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2015年第08期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2015080470 DOC编号:DOCCGQJ2015080479 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 设计了一种可纠错的光栅条纹编码三维测量方案。采用CMOS图像采集传感器构建了一种三维测量系统,通过采用汉明码作为可纠错编码方案,解决了光栅交界处像素点编码错误的问题,并验证了可行性。

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