作者：王福鑫,谭秋林,王军辉,李锦明 单位：中国计算机自动测量与控制技术协会 出版：《计算机测量与控制》2012年第03期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJZCK2012030270 DOC编号：DOCJZCK2012030279 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 文章拟在设计一个单通道微型瞬态存储测试系统，设计其整体硬件电路及CPLD内部逻辑程序，对CPLD内部逻辑电路进行仿真；传统存储测试在测试参数多、时间长、而体积小的场合因其体积较大，功耗过高而难以胜任，微型存储测试系统在传统存储测试系统的基础上对其进行单元电路的二次集成技术，主要采用CPLD代替分立元件、使用小型化封装的芯片、优化内部结构布局，使测试系统的体积大幅减小，从而提高存储测试系统抗高过载性能，增加系统使用的灵活性和通用性。

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