作者:龚红军 单位:中国仪器仪表行业协会;北京市北分仪器技术有限责任公司 出版:《分析仪器》2012年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFFXYQ2012050420 DOC编号:DOCFXYQ2012050429 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文介绍了日本理学ZSX100eX荧光光谱仪在微区分析时图成齿轮状和PrimusⅡX荧光光谱仪频繁出现“探测到2-θ(F-PC)冲突保护”两例故障的原因分析与处理方法,供同行参考。

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