作者:陈功,潘柳,明治中 单位:中国测试技术研究院 出版:《中国测试》2012年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSYCS2012010230 DOC编号:DOCSYCS2012010239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为提高大功率电阻的老化控制时间的精确性,对老化过程出现的异常进行及时处理,并显示老化状态与时间,特研制基于单片机AT89S52的控制板进行相关控制。通过实验验证:老化时间、间隙时间和老化周期时间的误差均小于5s,对于老化平台出现的过热,通过DS18B20温度传感器进行保护,以确保电阻不会被损坏。

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